【首都之窗】北理工毫米波技術促進高分辨率安檢設備產業化
發布日期：2014-01-20 供稿：首都之窗 編輯：宣傳部 趙琳 閱讀次數：
近日，依托北京理工大學建設的“毫米波與太赫茲技術北京市重點實驗室”開展了W波段毫米波三維主動成像安檢系統成像算法與關鍵技術研究，取得重要成果，研制出W波段小型化成像系統原理樣機。
與目前國際主流的Ka波段成像系統相比，該系統可獲得更高的系統帶寬和三維空間分辨率，在天線波束寬度一定的條件下，其分辨率較Ka波段成像系統分辨率高兩倍以上。毫米波對衣服、紙箱和皮革等具有一定的穿透性，在適當的功率下對人體沒有傷害。利用毫米波頻段可以精準分辨人體輻射的亮溫與金屬、陶瓷、塑料、粉狀物、衣物、絕緣材料等物質輻射亮溫的不同，可用來檢查是否攜帶手槍、炸彈、炸藥、毒品等違禁物品。該項目的研究成果，可為毫米波安檢成像系統的市場化應用提供理論指導，對于國家重要場所的安保具有重大意義。
與目前國際主流的Ka波段成像系統相比，該系統可獲得更高的系統帶寬和三維空間分辨率，在天線波束寬度一定的條件下，其分辨率較Ka波段成像系統分辨率高兩倍以上。毫米波對衣服、紙箱和皮革等具有一定的穿透性，在適當的功率下對人體沒有傷害。利用毫米波頻段可以精準分辨人體輻射的亮溫與金屬、陶瓷、塑料、粉狀物、衣物、絕緣材料等物質輻射亮溫的不同，可用來檢查是否攜帶手槍、炸彈、炸藥、毒品等違禁物品。該項目的研究成果，可為毫米波安檢成像系統的市場化應用提供理論指導，對于國家重要場所的安保具有重大意義。
分享到：
